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产品咨询

伊诺斯移动式矿石分析仪 X X-5000

分类:手持式矿石分析仪 | 评论:3 | 浏览:

 

产品名称:移动式矿石分析仪 X X-5000

产品型号:X-5000

应用描述:地质勘探、矿山测绘、开采、矿石分选、品位鉴定、金属冶炼以及环境监测等领域

品牌:INNOV-x

产地:美国

典型用户:矿产公司








概述

  Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪,功能强大,便于携带,是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W,50Kv的射线管,超大探测面的探测器,多种分析模 式,6个光束滤波器,是目前市场上功能最强大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如,Y,Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。

Innov-X X系列矿石分析仪系统规格  

尺寸

外形尺寸:328x280x380mm

展开尺寸:328x690x460mm

样品室尺寸:287x145x114mm

重量

26lbs;11Kg

环境要求

环境湿度0~95%;环境工作温度-20~50℃;亮黄

激发源

0~50kV多段可选择的电压;200uA

探测器

SI-PINSDD;等不同的探测器可选择

冷却系统

采用了Peltier恒温冷却系统,探测器在-35℃下工作,保证仪器

滤波器

6个滤波片可自动切换

电压、电流

电压15~40kv,电流可达200uA

电力要求

10~240VAC;50~60Hz, 最小电力100W          

主机供电系统

10~240VAC;50~60Hz交流电;

锂电池组、适配器,适配器DC输出16.4V 3A(可选项)

显示器

整机一体化设计,工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸,分辨率800*600

显示器固定方式

一体机设计,整机连体构造,可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率

数据显示

百分比%ppm显示元素含量,动态显示,元素可排序

数据存储

内存504M,硬盘18.6G

处理器CPU

Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz,RAM504M                
       

操作系统

Microsoft Windows XP ,SP2


Innov-X X系列矿石分析仪用途

十分pk10●  地球化学勘探

▼广泛应用于普查、详查的各过程, 
迅速采集矿区的地球化学数据与
调查
▼现场快速追踪矿化异常,有效地 
寻找"热点"地带,圈定矿体边界
对矿山仓库、矿区现场日常工作 
的有效管控


●  动力设备、管道、 生产线维护 
▼在高峰期对机器的预防性养护, 防止意外故障
▼分析设备润滑油等油品中磨损的微量金属

  




● 环境监控  

▼更快、更经济地监控矿区、 工厂周围的环境、尾矿、粉尘、土
 壤等污染影响,实现可持续性发展
▼原土地、大气、水资源的污染调查、测量与控制
▼作业现场动态管控,有害元素检测,有害废料筛选




●  矿石品位、过程控制
▼实时进行矿石等级管控 
▼对精矿、尾矿、矿渣的精确快速分析 
▼在运转过程中进行现场化学测定,为研磨、加工和冶炼等过程提供帮助 
▼为矿物贸易、加工及再利用提供价值判定依据

  

  

  Innov-X X系列矿石分析仪模式与元素

十分pk10  可分析从镁矿(Mg)到铀矿(U)之间的83种金属矿、非金属矿、贵重金属矿、稀有金属矿等自然矿,分析范围从PPM到100%      

模式类别

分析方法

分析模式

元素

土壤模式

基本参数法

Ppm含量Soil1

As, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Th, U...可增加的元素RhPd...  

Ppm含量Soil2

Fe,  Co,  Ni,  Cu,  Zn, Hg, Se, Rb, Pb, Bi...可增加的元素AuPt...

Ppm含量Soil3

P、SClKCaTiCr Mn...

矿石模式

经验系数法

百分比含量Mining

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo,Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi...                

     

百分比含量  Two Beam Mining

Mg,  Al,  Si,  P,  S,  Cl,  K,  Ca, Ti,  V,  Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi...

   

 Innov-X X系列矿石分析仪应用界面

  

  Innov-X X系列矿石分析仪技术性能

  ■采用10W,50Kv的射线管,具有实验室的精度,是目前世面上功能最强大的移动式分析仪
■采用多光束技术,使重金属元素、过渡元素、轻质元素的分析效果达到最佳 只需直接接触待测物表面,即可现场确定矿石等级、元素鉴定 
■可以检测的样品如矿石、岩石、岩芯、矿渣、碎片;土壤、 泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油、等等的固体、液体物质
■可添加并很好地测试贵重金属元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的现场移动式分析仪
■工业级触摸式高清高分辨率彩色TFT触摸屏、电脑、仪器一体化密封设计,有很好的三防性能,可承受恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的室外环境中长时间稳定工作
■  真正实现了现场快速、准确的检测,直接显示元素的ppm含量与百分比含量
■  仪器内置风扇,散热性好,根本性解决XRF仪器存在的散热问题
■  采用Windows XP SP2操作系统,可外接USB、鼠标、键盘、打印、INTERNET等通用外设,具有良好的兼容性
■超大规模的存储系统,内存504M,硬盘18.6G可存储数据高达86万组数据及图谱   
十分pk10■具有自动校准、诊断、故障报告功能,可通过INTERNET远程诊断机器故障与软件升级

  Innov-X X系列矿石分析仪LOD
测试样品为匀质SiO  ,无干扰元素,测试时间为120秒,LOD值单位为PPM  

  

  多段电压、单段电压与不同元素的LOD的关系表明多段电压可以对不同的元素有很好的LOD下图为X-5000对SiO2 的120秒检测结果

  

  Innov-X X系列矿石分析仪

▼ 模式:Soil(3 Beam)、Mining、 2 Beam Mining
▼ 硅漂移SDD探测器(Si drift)
▼ 10W X射线管
▼ 能测试Mg、Al、Si、P、S...

 

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